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| システム名 | 画像計測システム |
|---|---|
| 概要 | 高精度XY軸ステージを使用した画像計測システムです。コムス社製汎用ポジションコントローラと、添付のソフトにて、ステージ位置制御、カメラシャッター制御、計測制御を行うためのIO入出力制御、計測トリガの制御が可能です。 |
| 用途例 | 広範囲の画像計測 |
| システム構成 | XY軸ステージ：PA180Sシリーズ コントローラ：ドライバ内蔵型3軸コントローラCP-700M ACアダプタ：AD-120A |
| システム名 | 計測加工システム |
|---|---|
| 概要 | レーザー変位センサにてワークの高さを計測し、この計測データに基づいてツール位置を補正しながらワークの高さにならって切削加工運転を可能にしたシステムです。 |
| 用途例 | うねりのあるサンプル形状に沿った加工 |
| システム構成 | XY軸ステージ：PKシリーズ Z軸ステージ：PM40・80Bシリーズ コントローラ：ドライバ内蔵型3軸コントローラCP-700M ACアダプタ：AD-120A |
| システム名 | 高さ補正機能付3軸ロボット (RAP) |
|---|---|
| 概要 | レーザ変位センサにてワークの高さを計測し、その計測データに基づき塗布機の高さ補正を行いながら、ワークの反りにならった位置決め動作による塗布運転が可能です。高精度XYZ軸ステージはリニアスケールを搭載し、位置決め精度は5μm を達成しております。 |
| 用途例 | 反りのあるワークへの塗布動作 |
| システム構成 | XYZ軸ステージ：SAFAシリーズ コントローラ：汎用ポジションコントローラ CP-700 ドライバユニット： ACサーボ専用ドライバ ACアダプタ：AD-200F |
| システム名 | 大型計測ステージ |
|---|---|
| 概要 | X軸600mm、Y軸900mmのストロークの自動ステージを搭載したガントリー型大型計測用システムです。ベースユニットに石定盤を採用している為、広範囲を高精度に測定したい用途に適しています。 |
| 用途例 | 金属板のそり測定、i-Unit測定 |
| システム構成 | XY軸ステージ：PA180Sシリーズ コントローラ：ドライバ内蔵型3軸コントローラCP-700M ACアダプタ：AD-120A |
| システム名 | 大型計測測定システム |
|---|---|
| 概要 | X軸800mm、Z軸600mmのストロークの自動ステージで構成された計測用システムです。高さ方向の移動範囲が広いので、高さのあるワークの側面からの計測に適しています。 |
| 用途例 | 大型サンプルの側面計測 |
| システム構成 | XY軸ステージ：PA180Sシリーズ コントローラ：ドライバ内蔵型3軸コントローラCP-700M ACアダプタ：AD-120A |
| システム名 | 透過型3軸ロボット |
|---|---|
| 概要 | XYZ軸のステージを取り付けるペースプレート部の中央部に開口部を設けて、ワークをXYZ軸の自動ステージから離れた位置に置く事が可能です。 |
| 用途例 | 磁性体の測定 |
| システム構成 | XY軸ステージ：PM40・80Bシリーズ コントローラ： ドライバ内蔵型3軸コントローラCP-700M ACアダプタ：AD-120A |
| システム名 | 倒立型顕微鏡用塗布装置 |
|---|---|
| 概要 | 倒立型顕微鏡に塗布用のXY軸自動ステージ組込む事で、塗布位置設定行うだけで、インクジェットプリンタ、ディスペンサの位置決め、塗布動作が可能です。 |
| 用途例 | バイオ向け用途での顕微鏡サンプルステージ、サンプル塗布の自動化 |
| システム構成 | XY軸ステージ：PM40・80Bシリーズ XY軸（顕微鏡用）ステージ：PTシリーズ コントローラ：ドライバ内蔵型3軸コントローラCP-700M ACアダプタ：AD-120A |
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